fischer菲希爾鍍金層測(cè)厚儀

菲希爾X熒光射線測(cè)厚儀菲希爾鍍金層測(cè)厚儀應(yīng)用范圍：
菲希爾X熒光射線測(cè)厚儀菲希爾鍍金層測(cè)厚儀無(wú)論是電鍍廠的簡(jiǎn)單的鍍層厚度測(cè)量（例如鐵上鍍鋅），Fischer X射線測(cè)厚儀還是鍍液分析，復(fù)雜的多鍍層應(yīng)用， 非常復(fù)雜的貴金屬分析或痕量分析（RoHS），一個(gè)軟件程序就可以完成所有的測(cè)量應(yīng)用：WinFTM。

Fischer X射線測(cè)厚儀儀器描述：

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和FISCHERSCOPE X-RAY XDLM菲希爾X射線測(cè)厚儀系列與XUL和XULM系列密切相關(guān)：兩者都使用相同的接收器，準(zhǔn)直器和濾片組合。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測(cè)量。
XDLM型號(hào)的X射線源采用微聚焦管，無(wú)錫駿展儀器可以測(cè)量細(xì)小的部件，對(duì)低輻射組分有較好的激勵(lì)作用。此外，XDLM配備了可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測(cè)量應(yīng)用創(chuàng)造理想的激勵(lì)條件。

兩種型號(hào)的儀器都配備了比例接收器探測(cè)器。即使對(duì)于很小的測(cè)量點(diǎn)，無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)X射線測(cè)厚儀由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計(jì)數(shù)率，確保良好的重復(fù)精度。
比較XUL和XULM儀器而言，XDL和XDLM系列儀器測(cè)量測(cè)量方向從上到下。它們被設(shè)計(jì)為用戶友好的臺(tái)式機(jī)，使用模塊化結(jié)構(gòu)，也就是說(shuō)它們可以配備簡(jiǎn)單支板，各種XY工作臺(tái)和Z軸以適應(yīng)不同的需求。